SEM-Planar-Pin-Stage-Probenhalter aus Kupfer, for die Mikroanalyse, 3/3,2-mm-Stummel mit flachem Stift(12.7mm Pin L8mm)

- Hergestellt aus hochreinem Kupfer for zuverlässige Leitfähigkeit und minimale Bildstörungen bei der SEM/EDS-Mikroanalyse.
- Die flache, planare Oberfläche sorgt for eine gleichmäßige Probenmontage und eine stabile Wechselwirkung des Elektronenstrahls for eine präzise Analyse.
- Kompatibel mit Standard-REM-Tischen, mit Stiftbeindurchmessern von 3 mm oder 3,2 mm for vielseitige Passform.
- Entwickelt for eine saubere und sichere Probenplatzierung; geeignet for Querschnitts- oder Oberflächenanalyse-Workflows.
- Packung mit 1 Stück, bietet konsistente Ergebnisse for den Laborgebrauch ohne Risiko oder Rückstände.